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GB/T1409測(cè)量電氣絕緣材料電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
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規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件,其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
IEC60247:1978 液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量
3、術(shù)語(yǔ)和定義
下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
3.1
相對(duì)電容率relative permittivity
ε r
電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時(shí),其電容Cx與同樣電極構(gòu)形的真空電容Co之比;
……………………………(1)
式中;
εr——相對(duì)電容率;
Cx——充有絕緣材料時(shí)電容器的電極電容;
Co——真空中電容器的電極電容。
在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對(duì)電容率ε r等于1.00053,因此,用這種電極構(gòu)形在空氣中的電容Cx來(lái)代替Co測(cè)量相對(duì)電容率εr時(shí),也有足夠的**度。
在一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)中,絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對(duì)電容率εr與真空電氣常數(shù)εr的乘積。
在SI制中,優(yōu)良電容率用法/米(F/m)表示。而且,在SI單位中,電氣常數(shù)εr,為:……………………………(2)
在本標(biāo)準(zhǔn)中,用皮法和厘米來(lái)計(jì)算電容,真空電氣常數(shù)為:ε0=0.088 54 pF/cm
3.2
介質(zhì)損耗角dielectric loss angle
δ
由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。
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3.3
介質(zhì)損耗因數(shù)1) dielectric dissipation factor
tanδ
損耗角δ的正切。
3.4
[介質(zhì)]損耗指數(shù) [dielectric] loss index
ε''r
該材料的損耗因數(shù)tanδ與相對(duì)電容率εr的乘積。
3.5
復(fù)相對(duì)電容率 complex relative permittivity
εr
由相對(duì)電容率和損耗指數(shù)結(jié)合而得到的:
式中:
εr——復(fù)相對(duì)電容率;
ε''r——損耗指數(shù);
ε'r、εr——相對(duì)電容率;
tanδ——介質(zhì)損耗因數(shù)。
注:有損耗的電容器在任何給定的頻率下能用電容Cs和電阻Rs的串聯(lián)電路表示,或用電容CP和電阻RP(或電導(dǎo)CP)并聯(lián)電路表示。
并聯(lián)等值電路 串聯(lián)等值電路
體時(shí),若單獨(dú)使用溶劑不能去除污物,可用一種柔和的擦凈劑和水來(lái)清潔試驗(yàn)池的表面。若使用一系列溶劑清洗時(shí)則*后要用zui大沸點(diǎn)低于100°C的分析級(jí)的石油醚來(lái)再次清洗,或者用任一種對(duì)一個(gè)已知低電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的液體測(cè)量能給出正確值的溶劑來(lái)清洗,并且這種溶劑在化學(xué)性質(zhì)上與被試液體應(yīng)是相似的。推薦使用下述方法進(jìn)行清洗。
試驗(yàn)池應(yīng)全部拆開,徹底地清洗各部件,用瑢劑回流的方法或放在未使用溶劑中攪動(dòng)反復(fù)洗滌方法均可去除各部件上的溶劑并放在清潔的烘箱中,在110℃左右的溫度下烘干30min。
待試驗(yàn)池的各部件冷卻到室溫,再重新裝配起來(lái)。池內(nèi)應(yīng)注人一些待試的液體,停幾分鐘后,倒出此液體再重新倒人待試液體,此時(shí)絕緣支架不應(yīng)被液體弄濕。
在上述各步驟中,各部件可用干凈的鉤針或鉗子巧妙地處理,以使試驗(yàn)池有效的內(nèi)表面不與手接觸。
注1:在同種質(zhì)量油的常規(guī)試驗(yàn)中,上面所說(shuō)的淸洗步驟可以代之為在每一次試驗(yàn)后用沒(méi)有殘留紙屑的干紙簡(jiǎn)單地擦擦試驗(yàn)池。
注2:采用溶劑時(shí),有些溶劑特別是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的,所以要注意防火及毒性對(duì)人體的影響,此外,氧化物溶劑受光作用會(huì)分解。
5.2.3試驗(yàn)池的校正
當(dāng)需要高精度測(cè)定液體電介質(zhì)的相對(duì)電容率時(shí),應(yīng)首先用一種已知相對(duì)電容率的校正液體(如苯)來(lái)測(cè)定“電極常數(shù)'。
“電極常數(shù)”C。的確定按式(14):
……………………………(14)
式中:
Cc——電極常數(shù);
Co——空氣中電極裝置的電容;
Cn——充有校正液體時(shí)電極裝置的電容;
εn——校正液體的相對(duì)電容率。
從C。和Cc的差值可求得校正電容Cg
……………………………(15)……………………………(16)
并按照公式
來(lái)計(jì)算液體未知相對(duì)電容率εx。
式中:
Cg——校正電容;
Co——空氣中電極裝置的電容;
Cc——電極常數(shù)|
Cx——電極裝置充有被試液體時(shí)的電容;
εx——液體的相對(duì)電容率。
假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同溫度下測(cè)定的,則可求得zui高精度的εx值。
采用上述方法測(cè)定液體電介質(zhì)的相對(duì)電容率時(shí),可保證其測(cè)得結(jié)果有足夠的精度,因?yàn)樗擞捎诩纳娙莼螂姌O間隙數(shù)值的不準(zhǔn)確測(cè)量所引起的誤差。
6、測(cè)置方法的選擇
測(cè)量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法可分成兩種:零點(diǎn)指示法和諧振法。
6.1零點(diǎn)指示法適用于頻率不超過(guò)50MHz時(shí)的測(cè)量。測(cè)量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)可用替代法;也就是在接入試樣和不接試樣兩種狀態(tài)下,調(diào)節(jié)回路的一個(gè)臂使電橋平衡。通?;芈凡捎梦髁蛛姌?、變壓器電橋(也就是互感耦合比例臂電橋)和并聯(lián)T型網(wǎng)絡(luò)。變壓器電橋的優(yōu)點(diǎn):采用保護(hù)電極不需任何外加附件或過(guò)多操作,就可采用保護(hù)電極;它沒(méi)有其他網(wǎng)絡(luò)的缺點(diǎn)。
6.2諧振法適用于10kHz?幾百M(fèi)Hz的頻率范圍內(nèi)的測(cè)量。該方法為替代法測(cè)量,常用的是變電抗法。但該方法不適和采用保護(hù)電極。
注:典型的電橋和電路示例見附錄。附錄中所舉的例子自然是不**的,敘述電橋和測(cè)量方法報(bào)導(dǎo)見有關(guān)文獻(xiàn)和該種儀器的原理說(shuō)明書。
7、試驗(yàn)步驟
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7.1試樣的制備
試樣應(yīng)從固體材料上截取,為了滿足要求,應(yīng)按相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)方法的要求來(lái)制備。
應(yīng)**地測(cè)量厚度,使偏差在±(0.2%土0.005mm)以內(nèi),測(cè)量點(diǎn)應(yīng)均勻地分布在試樣表面。必要時(shí),應(yīng)測(cè)其有效面積。
7.2條件處理
條件處理應(yīng)按相關(guān)規(guī)范規(guī)定進(jìn)行。
7.3測(cè)量
電氣測(cè)量按本標(biāo)準(zhǔn)或所使用的儀器(電橋)制造商推薦的標(biāo)準(zhǔn)及相應(yīng)的方法進(jìn)行。
在1MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。此時(shí),可采用同軸接線系統(tǒng)(見圖1所示),當(dāng)用變電抗法測(cè)量時(shí),應(yīng)提供一個(gè)固定微調(diào)電容器。
8、結(jié)果
8.1相對(duì)電容率εr
試樣加有保護(hù)電極時(shí)其相對(duì)電容率εr可按公式(1)計(jì)算,沒(méi)有保護(hù)電極時(shí)試樣的被測(cè)電容C'x包括了一個(gè)微小的邊緣電容Ce,其相對(duì)電容率為:
……………………………(17)
式中:
εr——相對(duì)電容率;
C'x——沒(méi)有保護(hù)電極時(shí)試樣的電容;
Ce——邊緣電容;
Co——法向極間電容;
Co和Ce能從表1計(jì)算得來(lái)。
必要時(shí)應(yīng)對(duì)試樣的對(duì)地電容、開關(guān)觸頭之間的電容及等值串聯(lián)和并聯(lián)電容之間的差值進(jìn)行校正。
測(cè)微計(jì)電極間或不接觸電極間被測(cè)試樣的相對(duì)電容率可按表2、表3中相應(yīng)的公式計(jì)算得來(lái)。
8.2介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ
介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ按照所用的測(cè)量裝置給定的公式,根據(jù)測(cè)出的數(shù)值來(lái)計(jì)算。
8.3精度要求
在第5章和附錄A中所規(guī)定的精度是:電容率精度為±1%,介質(zhì)損耗因數(shù)的精度為±(5%±0.0005)。這些精度至少取決于三個(gè)因素:即電容和介質(zhì)損耗因數(shù)的實(shí)測(cè)精度;所用電極裝置引起的這些量的校正精度;極間法向真空電容的計(jì)算精度(見表1)。
在較低頻率下,電容的測(cè)量精度能達(dá)±(0.1%土0.02pF),介質(zhì)損耗因數(shù)的測(cè)量精度能達(dá)±(2%±0.00005)。在較高頻率下,其誤差增大,電容的測(cè)量精度為±(0.5%±0,1PF),介質(zhì)損耗因數(shù)的測(cè)量精度為±(2%±0.0002)。
對(duì)于帶有保護(hù)電極的試樣,其測(cè)量精度只考慮極間法向真空電容時(shí)有計(jì)算誤差。但由被保護(hù)電極和保護(hù)電極之間的間隙太寬而引起的誤差通常大到百分之零點(diǎn)幾,而校正只能計(jì)算到其本身值的百分乏幾。如果試樣厚度的測(cè)量能**到±0.005mm,則對(duì)平均厚度為1.6mm的試樣,其厚度測(cè)量誤差能達(dá)到百分之零點(diǎn)幾。圓形試樣的直徑能測(cè)定到±0.1%的精度,但它是以平方的形式引人誤差的,綜合這些因素,極間法向真空電容的測(cè)量誤差為±0.5%。
對(duì)表面加有電極的試樣的電容,若采用測(cè)微計(jì)電極測(cè)量時(shí),只要試樣直徑比測(cè)微計(jì)電極足夠小,則只需要進(jìn)行極間法向電容的修正。采用其他的一些方法來(lái)測(cè)量?jī)呻姌O試樣時(shí),邊緣電容和對(duì)地電容的計(jì)算將帶來(lái)一些誤差,因?yàn)樗鼈兊恼`差都可達(dá)到試樣電容的2%?40%。根據(jù)目前有關(guān)這些電容資料,計(jì)算邊緣電容的誤差為10%,計(jì)算對(duì)地電容的誤差為因此帶來(lái)總的誤差是百分之幾十到百分之幾。當(dāng)電極不接地時(shí),對(duì)地電容誤差可大大減小。
采用測(cè)微計(jì)電極時(shí),數(shù)量級(jí)是0.03的介質(zhì)損耗因數(shù)可測(cè)到真值的±0.0003,數(shù)量級(jí)0.0002的介質(zhì)損耗因數(shù)可測(cè)到真值的±0.00005介質(zhì)損耗因數(shù)的范圍通常是0.0001?0.1,但也可擴(kuò)展到0.1以上。頻率在10MHz和20MHz之間時(shí),有可能檢測(cè)出0.00002的介質(zhì)損耗因數(shù)。1?5的相對(duì)電容率可測(cè)到其真值的±2%,該精度不僅受到計(jì)算極間法向真空電容測(cè)量精度的限制,也受到測(cè)微計(jì)電極系統(tǒng)誤差的限制。
9、試驗(yàn)報(bào)告
試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出下列相關(guān)內(nèi)容:
絕緣材料的型號(hào)名稱及種類、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣日期(并注明試樣厚度和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況);
試樣條件處理的方法和處理時(shí)間;
電極裝置類型,若有加在試樣上的電極應(yīng)注明其類型;
測(cè)量?jī)x器;
試驗(yàn)時(shí)的溫度和相對(duì)濕度以及試樣的溫度;
施加的電壓;
施加的頻率;
相對(duì)電容率εr(平均值);
介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ(平均值);
試驗(yàn)日期;
相對(duì)電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)值以及由它們計(jì)算得到的值如損耗指數(shù)和損耗角,必要時(shí),應(yīng)給出與溫度和頻率的關(guān)系。
表1 真空電容的計(jì)算和邊緣校正
試樣的相對(duì)電容率:
其中:
C'x——電極之間被測(cè)的電容;
In——自然對(duì)數(shù);
Ig——常用對(duì)數(shù)。
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表2 試樣電容的計(jì)算——接觸式測(cè)微計(jì)電極
試樣電容 |
注 |
符號(hào)定義’ |
1.并聯(lián)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電容器來(lái)替代試樣電容 |
CP——試樣的并聯(lián)電容 △C——取去試樣后,為恢復(fù)平衡時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電容器的電容增量 Cr——在距離為r時(shí),測(cè)微計(jì)電極的標(biāo)定電容 Cs——取去試樣后,恢復(fù)平衡,測(cè)微計(jì)電極間距為s時(shí)的標(biāo)定電容Cor,Coh——測(cè)微計(jì)電極之間試樣所占據(jù)的,間距分別為r或h的空氣電容??捎帽?/span>1中的公式1來(lái)計(jì)算r——試樣與所加電極的厚度 h——試樣厚度
相對(duì)電容率: |
|
CP=△C+Cor |
試樣直徑至少比測(cè)微計(jì)電極的直徑小2r。在計(jì)算電容率時(shí)必須采用試樣的真實(shí)厚度h和面積A。 |
|
2.取去試樣后減少測(cè)微計(jì)電極間的距離來(lái)替代試樣電容 |
||
CP=Cs-Cr+Cor |
試樣直徑至少比測(cè)微計(jì)電極的直徑小2r。在計(jì)算電容率時(shí)必須采用試樣的真實(shí)厚度h和面積A。 |
|
3.并聯(lián)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電容器來(lái)替代試樣電容 當(dāng)試樣與電極的直徑同樣大小時(shí),僅存在一個(gè)微小的誤差(因電極邊緣電場(chǎng)畸變引起0.2%?0.5%的誤差),因而可以避免空氣電容的兩次計(jì)算。 |
||
CP=△C+Coh |
試樣直徑等于測(cè)微計(jì)電極直徑,施于試樣上的電極的厚度為零。 |
表3電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的計(jì)算——不接觸電極
1——測(cè)微計(jì)頭; |
6——微調(diào)電容器; |
2——連接可調(diào)電極(B)的金屬波紋管; |
7——接檢測(cè)器; |
3——放試樣的空間(試樣電容器M1; |
8——接到電路上; |
4——固定電極(A); |
9——可調(diào)電極(B)。 |
5——測(cè)微計(jì)頭; |
|
圖1 用于固體介質(zhì)測(cè)量的測(cè)微計(jì)——電容器裝置
單位為毫米
1——內(nèi)電極; |
1——把柄; |
2——外電極; |
5——棚硅酸鹽或石英墊圈; |
3——保護(hù)環(huán); |
6——硼硅酸鹽或石英墊圈。 |
圖2 液體測(cè)量的三電極試驗(yàn)池示例
注滿試驗(yàn)池所需的液體量大約15mL
1——溫度計(jì)插孔;
2——絕緣子;
3——過(guò)剩液體溢流的兩個(gè)出口。
圖3 測(cè)量液體的兩電極試驗(yàn)池示例
1——溫度計(jì)插孔;
2——1mm厚的金屬板;
3——石英玻璃;
4——1mm或2mm的間隙;
5——溫度計(jì)插孔
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